光纜大衰耗點(diǎn)的查找定位及處理
1.一般產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)的位置
光纜接續完成后，我們一般要對整個(gè)中繼段用OTDR進(jìn)行測試，通過(guò)測試，可以檢驗接續完的光纜中繼段的光特性是否符合施工規范和驗收標準的要求，主要從以下幾個(gè)方面進(jìn)行考核：中繼段全程 總衰耗是否小于設計規定（也就是平均衰耗系數是否小于設計規定值）；中繼段接頭雙向平均衰耗值是否小于驗收標準和設計要求；中繼段后向散射曲線(xiàn)是否斜率均勻，曲線(xiàn)平滑，除正常的接頭衰耗點(diǎn)的小臺階外，曲線(xiàn)上應無(wú)大衰耗臺階。利用OTDR進(jìn)行光中繼段測試和人衰耗點(diǎn)定位時(shí)，首先應正確地設置儀表的測試參數，諸如測試量程、測試波長(cháng)、脈沖寬度、折射率和平均化處理時(shí)間等。對測試量程的設定，一般根據中繼段長(cháng)度，選擇合適的量程，使整個(gè)中繼段曲線(xiàn)占據整個(gè)顯示 屏幕的２／３為宜；測試波長(cháng)根據系統采用的波長(cháng)確定，對長(cháng)途干線(xiàn)光纜一般為1310nm和1550nm折射率根據使用廠(chǎng)家的光纖折射率設定；脈沖寬度是一個(gè)重要的設置參數，脈沖寬度過(guò)小，測試的動(dòng)態(tài)范圍太小，不能完整地測試整個(gè)曲線(xiàn)，表現為曲線(xiàn)末端噪聲信號大，所得到的曲線(xiàn)質(zhì)量差；脈沖寬度過(guò)大，測試的范圍越大，但測試的精確度越差，一般根據被測中繼段長(cháng)度，選擇一個(gè)合適的測試脈沖寬度，既要考慮測試距離，還要考慮測試精度，通過(guò)試測，選擇一個(gè)合適的脈沖寬度；平均化時(shí)間的設定根據平均化的曲線(xiàn)質(zhì)量試驗確定，使平均化后的曲線(xiàn)尾端上無(wú)明顯毛刺即可。為了精確地確定線(xiàn)路上光纖故障點(diǎn)的位置，可利用OTDR分析軟件對儀表測試出的曲線(xiàn)進(jìn)行分析，一般有接頭盒內故障和纜身故障兩種情況?！?/p>
2.大衰耗點(diǎn)的處理
首先確定大衰耗點(diǎn)是否是接頭位置，一般在接頭位置，所有光纖均有或大或小的衰耗臺階，可將多條光纖的曲線(xiàn)同時(shí)分析，可看到所有曲線(xiàn)在接頭點(diǎn)均有大小不等的臺階，我們可對各光纖同一位置的接頭雙向衰耗值進(jìn)行測試和計算，對大于指標要求的做好記錄，并安排對接頭位置的大衰耗點(diǎn)打開(kāi)接頭盒進(jìn)行處理。對不是接頭位置的部分光纖的大衰耗點(diǎn)，我們將多條曲線(xiàn)同時(shí)分析可看到有的曲線(xiàn)在此點(diǎn)有衰耗臺階，有的就沒(méi)有衰耗臺階，據此可以判斷，這不是接頭位置的故障，而是光纜線(xiàn)路中間光纜有故障。對接頭處的故障，其位置比較好定位，對非接頭位置的故障，定位比較困難，一般原則是對離測試端較近的故障點(diǎn)，可在端站測試，利用OTDR測出故障點(diǎn)離最近接頭點(diǎn)的距離，對離測試點(diǎn)較遠的故障點(diǎn)，由于距離遠，測試的精確度相對下降，定位準確較困難，可在就近接頭盒處打開(kāi)，接入 OTDR進(jìn)行測試，測出故障點(diǎn)的距離后，并結合施工原始資料記錄的各種余留，根據直埋徑路情況，實(shí)地丈量出故障點(diǎn)的大致位置，一般可定位在十幾米 的范圍內，這樣開(kāi)挖的范圍就比較小，節省了施工費用，縮短了處理故障的時(shí)間。對接頭處的大衰耗點(diǎn)，我們采用打開(kāi)接頭盒進(jìn)行重新熔接處理，用OTDR實(shí)時(shí)監測，直到接續損耗達到要求。有時(shí)經(jīng)多次熔接，接續損耗達不到要求，這時(shí)就要檢查是否光纖束管變形引起光纖受壓，盤(pán)纖盤(pán)留時(shí)光纖彎曲半徑是否過(guò)小，光纖是否受壓等。經(jīng)這些檢查后，如果還不能達到要求，就要考慮接頭盒前后的光纜是否有問(wèn)題。因為端頭的光纜在施工中比較容易受到損傷，這時(shí)就要再截去一段光纜重新熔接全部光纖。為了避免出現此類(lèi)問(wèn)題，我們在接續前，可仔細檢查接頭余留光纜，對可疑端頭光纜采取多截去一部分的做法，以避免此類(lèi)問(wèn)題出現。對線(xiàn)路中間的光纜大衰耗點(diǎn)的處理，在找到故障點(diǎn)后，可發(fā)現此類(lèi)故障或者是光纜出現過(guò)打背扣現象，或者是光纜受到損傷，如被石頭等硬物硌傷使光纜出現凹進(jìn)、壓扁等變形現象，光纖束管變形而導致光纖受壓，產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)，或者是其它外力 因素造成光纜受損。處理時(shí)，可把此段光纜截去從新熔接一般經(jīng)此處理，大衰耗點(diǎn)基本消失。對在施工時(shí)發(fā)現的打背扣故障點(diǎn)，應住故障點(diǎn)做好適當余留，以便處理。對受損嚴重的，加接頭盒處理時(shí)，可剝開(kāi)光纜外護套，對有變形的束管進(jìn)行處理，必要時(shí)對受損束管的光纖進(jìn)行接續。測試點(diǎn)應聯(lián)系現場(chǎng)熔接人員分別在熔接完畢后進(jìn)行一次測試，光纖盤(pán)留后進(jìn)行一次測試，接頭盒緊固密封后進(jìn)行一次測試，經(jīng)測試點(diǎn)測試確認衰耗點(diǎn)故障消失后，現場(chǎng)人員方可撤離。